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2600-PCT-x/4200-PCT-x參數(shù)曲線跟蹤儀配置(二)

  • 吉時(shí)利參數(shù)曲線跟蹤儀配置是完整的特性分析工具，包括功率器件分析所需的主要要素。測量通道包括吉時(shí)利數(shù)字源表reg;源測量單元(SMU)和或
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2600-PCT-x/4200-PCT-x參數(shù)曲線跟蹤儀配置(三)

  • 1用于提取參數(shù)的測試方法。僅列出典型MOSFET，其他器件使用的方法類似。22657A型高功率系統(tǒng)數(shù)字源表儀器。32636A型數(shù)字源表或4210
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2600-PCT-x/4200-PCT-x參數(shù)曲線跟蹤儀配置

  • 可配置功率電平 :ndash; From 200V to 3kVndash; From 1A to 100Abull; 動(dòng)態(tài)范 圍寬:ndash; From mu;V to 3kVndash; From fA to 100Abull; 電容-電壓方法:ndash; plusmn;400V多 頻C-Vndash; 200V斜 坡速率
  • 關(guān)鍵字： 2600    PCT    4200    參數(shù)曲線    跟蹤儀  

使用基于TSP的3700系列開關(guān)/萬用表和2600系列源表優(yōu)化開關(guān)測量

  • 吉時(shí)利儀器于2005年發(fā)布了配備板載測試腳本處理器(TSPTM)的測試和測量儀器——首款2600系列源表。TSP基于消息的編程很像SCPI，還具有通過用戶定義的測試腳本實(shí)現(xiàn)測試序列/流的控制、決策和儀器自我管理等
  • 關(guān)鍵字： TSP    3700    萬用表    2600    開關(guān)測量  

用2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測試和待機(jī)電流測試

  • CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測量靜態(tài)(或“待機(jī)”)電源電流用于驗(yàn)證生產(chǎn)測試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測
  • 關(guān)鍵字： 2600    數(shù)字源表    IDDQ  
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